KEW 3127絕緣電阻測(cè)試儀 萬(wàn)用表日本共立
絕緣電阻測(cè)量高達(dá)10TΩ
短路電流大5mA

KEW 3127絕緣電阻測(cè)試儀 萬(wàn)用表

日本共立KEW 3127絕緣電阻測(cè)試儀 萬(wàn)用表

日本共立KEW 3127絕緣電阻測(cè)試儀 萬(wàn)用表特點(diǎn)

絕緣電阻測(cè)量高達(dá)10TΩ

短路電流大5mA 

寬廣測(cè)試范圍:250, 500,1000,2500,5000V

診斷絕緣測(cè)試:R, PI, DAR,DD, SV, RAMP (故障和燃燒模式),電容, 漏電

可通過(guò)藍(lán)牙無(wú)線通訊功能傳輸和顯示實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)到PC和Android device

記憶和記錄功能

過(guò)濾功能:減少現(xiàn)場(chǎng)高磁場(chǎng)干擾以獲得更穩(wěn)定地測(cè)試數(shù)據(jù) 

大型背光源,用直方圖顯示數(shù)據(jù)

加強(qiáng)堅(jiān)固設(shè)計(jì)IP65為現(xiàn)場(chǎng)使用提供便利(蓋子密封) 

使用可充電電池供電

符合安全規(guī)格 IEC61010-1CAT.IV 600V 

KEW 3127絕緣電阻測(cè)試儀 萬(wàn)用表

日本共立KEW 3127絕緣電阻測(cè)試儀 萬(wàn)用表

日本共立KEW 3127絕緣電阻測(cè)試儀 萬(wàn)用表特點(diǎn)

絕緣電阻測(cè)量高達(dá)10TΩ

短路電流大5mA 

寬廣測(cè)試范圍:250, 500,1000,2500,5000V

診斷絕緣測(cè)試:R, PI, DAR,DD, SV, RAMP (故障和燃燒模式),電容, 漏電

可通過(guò)藍(lán)牙無(wú)線通訊功能傳輸和顯示實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)到PC和Android device

記憶和記錄功能

過(guò)濾功能:減少現(xiàn)場(chǎng)高磁場(chǎng)干擾以獲得更穩(wěn)定地測(cè)試數(shù)據(jù) 

大型背光源,用直方圖顯示數(shù)據(jù)

加強(qiáng)堅(jiān)固設(shè)計(jì)IP65為現(xiàn)場(chǎng)使用提供便利(蓋子密封) 

使用可充電電池供電

符合安全規(guī)格 IEC61010-1CAT.IV 600V 

KEW 3127絕緣電阻測(cè)試儀 萬(wàn)用表

日本共立KEW 3127絕緣電阻測(cè)試儀技術(shù)參數(shù):